尊敬的女士/先生：

电子技术日新月异的发展对船舶、航空、航天、通信、汽车、军工等各行业都产生了极其深远的影响。在电子系统设计中我们需特别关注其可靠性，而在影响电子产品可靠性的几个关键问题中，散热问题最为核心。基于此，为帮助高校及国内科研单位提升电子产品热设计水平，海基科技将联合Mentor Graphics公司共同举办“电力电子器件可靠性之热设计交流会”，本次活动于2016年5月27日在北京开幕，诚邀您参加。

活动简介
　　本次活动中，您将有机会与多位散热专家共同探讨热仿真、热测试相关话题；了解半导体器件的热瞬态测试方法、半导体器件的功率循环及寿命预测、电子器件进行计算模型的校准等相关技术；并有机会亲自参观体验先进的半导体器件热特性测试仪器T3Ster。

议程

专家介绍

Andras Vass-Varnai：布达佩斯技术与经济大学电气工程专业博士，2007年加入MicRed团队，担任欧盟资助的 NANOPACK 项目技术主管，开发出DynTIM产品。在工业级功率循环测试系统PWT1500A（Power Tester 1500A）的设计和推广中有深刻研究。2015年荣升为高级产品经理负责热测试的相关研究。他的主要研究领域包括电子设备的热管理、热瞬态测试的高级应用、TIM材料的属性、高功率半导体器件的可靠性研究，在国际上发表相关文章30多篇。

免费参会，名额有限，请点击报名我们期待您的参与！

地点：北京

联系人：赵女士

传真：010-82324448

电话：010-82318880&608

邮箱：zhaoxm@hikeytech.com

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